產業資訊
Information
2006全球陣列檢測設備市場概況(上)
資料來源: 金屬中心 產業資訊與企劃組 時間:2008/6/6
一、產品定義
陣列檢測(TFT Array Test)主要著重於Active Area的電氣特性,用以發現製造過程所產生的缺陷,【圖1】為典型的Array 缺陷。Array Test屬於一種功能性測試,它同時會分析TFT中,每一個子像素(Sub-Pixel)的功效。........



類別: 產業評析